IMM | Mikrostrukturcharakterisierung

Messergebnisse

Kaltverformte Kupferprobe

EBSD-Mapping einer kaltverformten Kupferprobe. In blau sind die Subkorngrenzen der Körner eingezeichnet, die aufgrund der hohen Versetzungsdichte in praktisch jedem verformten Korn zu finden sind.

Geglühte Kupferprobe (2 min)

Nachdem die Probe für t=2 min bei T=250°C geglüht wurde sind einige der Körner rekristallisiert. Diese Körner sind weitgehend frei von Subkörnern, wie im EBSD-Mapping deutlich zu erkennen.
Die Probe ist teilrekristallisiert.

Geglühte Kupferprobe (1 Std)

Nach einer Stunde Glühzeit sind nahezu alle Körner frei von Subkorngrenzen.
Die Probe ist vollständig rekristallisiert.

Checkliste

1. Versuchsvorbereitung

Einbringen der Probe

Passenden Probenhalter auswählen
Probe in Haltevorrichtung sichern
Vakuumkammer am REM öffnen
Probe auf Probentisch schieben
Kammer schließen

Achtung Um Verschmutzungen der Probenoberfläche zu vermeiden unbedingt Handschuhe tragen.

2. Vorbereitung des Messprogramms

Einrichten des REM

Das Gerät ist für den Versuch bereits eingemessen und kalibriert.

3. Durchführung des Versuchs

Messen der Mikrostruktur

Bild der Probenoberfläche einziehen, um Größe und Position des Mappings festlegen zu können
Material auswählen, passende Parameter und Kamera-Belichtungszeit einstellen
Einige Kikuchi-Linien exemplarisch indizieren
Optimierung der Messparameter
Schrittweite und Messbereich für Messung festlegen
EBSD-Messung starten
Orientierung der indizierten Punkte mit Koordinaten abspeichern
Auswertung als zweidimensionale Orientierungskarte

4. Weitergehende Bildanalyse

Bildanalyse

Extrapolieren der fehlenden Messpunkte über Orientierungsbeziehungen
Einzelne Körner ermitteln
Korngrößenverteilung bestimmen
Misorientierung berechnen
Misorientierungswinkel der Korngrenzen identifizieren
Orientierungsverteilung und dazugehörigen Polfiguren ermitteln

Durchführung

Gliederung: